半導(dǎo)體行業(yè)
HiPA正創(chuàng)新研發(fā)應(yīng)用于硅光晶圓產(chǎn)品的硅光晶圓測(cè)試儀，此儀器可全自動(dòng)測(cè)試硅光晶圓內(nèi)設(shè)計(jì)的有源 / 無(wú)源硅基光電子微器件 (光波導(dǎo)，光調(diào)制器，光電探測(cè)器) 的光電特性并對(duì)測(cè)試結(jié)果做分析整理。在半導(dǎo)體檢測(cè)領(lǐng)域，HiPA將持續(xù)研發(fā)各類高精度檢測(cè)儀器，以滿足日益增強(qiáng)的市場(chǎng)需求。
